超聲波探傷儀根據(jù)波動(dòng)傳播時(shí)介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向相對于波的傳播方向的不同，可將波分,超聲波波形,超聲波探傷的物理基礎(chǔ),滲透滲出探傷：檢測材料表面啟齒性缺陷。超聲波探傷儀還有就是一些特殊探頭好比雙晶直探頭是做＜20的，縱波斜探頭等詳細(xì)看你做什么，根據(jù)什么尺度, 超聲波探傷儀受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同,否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整見附錄E,在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差在2dB以內(nèi)可不進(jìn)行修整。探傷面曲率半徑R小于即是W2/4時(shí),間隔--波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面臨比試塊長進(jìn)行。探測橫向缺陷時(shí),應(yīng)將各線敏捷度均進(jìn)步6dB。間隔----波幅曲線由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對比試塊上的實(shí)測數(shù)據(jù)繪制見圖8,其繪制方法見附錄D,曲線由判廢線RL,定量線SL和評定線EL組成,不同驗(yàn)收級別的各線敏捷度見表3.表中的DAC是以Φ3mm尺度反射體繪制的間隔--波幅曲線--即DAC基準(zhǔn)線.評定線以上至定量線以下為1區(qū)(弱信號評定區(qū));定量線至判廢線以下為Ⅱ區(qū)(長度評定區(qū));判廢線及以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)(判廢區(qū))。間隔----波幅(DAC)曲線的繪制。探傷面曲率半徑R小于即是W2/4時(shí),探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合,在6.2.3條劃定的對比試塊上作時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。 探傷面曲率半徑R大于W2/4時(shí),可在平面臨比試塊上或與探傷面曲率相近的曲面臨比試塊上,進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。探傷面為平面時(shí),可在對比試塊長進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié),掃描比例依據(jù)工件工和選用的探頭角度來確定,最大檢修范圍應(yīng)調(diào)至熒光屏?xí)r基線滿刻度的2/3以上，熒光屏?xí)r基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平間隔。記實(shí):凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿幅20%的部位,應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記,并予以記實(shí)。敏捷度:將無缺陷處二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿幅的100%。探傷儀方法:接觸式脈沖反射法,采用頻率2-5MHz的直探頭,晶片直徑10-25mm。采用C級檢修時(shí),斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭作檢查,以便探測是否有有探傷結(jié)果解釋的分層性或其他缺陷存在.該項(xiàng)檢查僅作記實(shí),不屬于對母材的驗(yàn)收檢修.母材檢查的規(guī)程要點(diǎn)如下：在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢修應(yīng)采用相同的耦合劑。典型的耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊,耦合劑中可加入適量的"潤濕劑"或活性劑以便改善耦合機(jī)能。

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